如果计入表面态的影响,当表面态为施主态,且态密度足够大时,关于异质结能带结构的描述,正确的是?()
A.此时异质结界面两边的状态完全由界面态电荷决定,与功函数等没有关系
B.对于 n 型半导体,在半导体表面形成很薄的多子积累层
C.对于 p 型半导体,在半导体表面形成很厚的耗尽层
D.对于n型半导体,在半导体表面形成很厚的耗尽层
E.对于p 型半导体,在半导体表面形成很薄的多子积累层
A.此时异质结界面两边的状态完全由界面态电荷决定,与功函数等没有关系
B.对于 n 型半导体,在半导体表面形成很薄的多子积累层
C.对于 p 型半导体,在半导体表面形成很厚的耗尽层
D.对于n型半导体,在半导体表面形成很厚的耗尽层
E.对于p 型半导体,在半导体表面形成很薄的多子积累层
①在室温下,锗的有效态密度NC=1.05x1019cm-3, NV=5. 7x1018cm-3,试求锗的载流子有效质量mn+,mp+计算77K时的NC和NV。已知300K时,Eg=0. 67eV。77k时Eg=0. 76eV。求这两个温度时锗的本征载流子浓度。②77K时,锗的电子浓度为1017cm-3,假定受主浓度为零,而EC-ED=0. 01eV,求锗中施主浓度ED多少?
A.化学反应中都伴随有热量的交换
B.化学反应热效应只与反应的始态和终态有关,与反应途径无关
C.化学反应中的反应热是用焓变来表示的
D.如果化合物的生成热较低,则该化合物较稳定
写出图3.5(a)中各个触发器的次态方程,并按照所给的CLK信号,画出各个触发器的输出波形(设初始态为0).
设是来自正态总体N(0,22)的简单随机样本,已知服从X2(n)分布,其中a,b为常数,则n=____.
设X1,X2,···,Xn是来自正态总体X~N(μ,σ2)的一个样本,适当选择常数C使为σ2的无偏估计。
p2=50kPa.已知固态物质A的Cp,m=24.454J·mol-1·K-1.试求:
(1)系统的末态温度T2;
(2)以B为系统时,过程的W,Q,ΔU和ΔH.
试证明:处于Is,2p和3d态的氢原子的电子在离原子核的距离分别为的球壳内被发现的几率最大(a0为第一玻尔轨道半径)。